IV测试仪集成EL测试
u方案介绍
基于已有IV测试仪，设备内部增加EL测试模块，通过伺服电机及导轨组成的自动化测试模块，在测试箱内部进行IV与EL的交替测试；在不影响IV测试的同时进行EL测试；避免被测组件重复搬运，简化测试流程。
u功能特点
自动化程度高，减少搬运环节。
设备集成度高，缩短测试周期。
现场升级改造时间周期短，小于1天。
伺服电机驱动，安全稳定。
EL测试功能，高低电流一键测试、缺陷分类、信息水印、数据查询及导出、缺陷分析、报告导出等。
详尽参数，请联系苏州智升科技有限公司服务热线，欢迎您的咨询，期待与您合作！
基于已有IV测试仪，设备内部增加EL测试模块，通过伺服电机及导轨组成的自动化测试模块，在测试箱内部进行IV与EL的交替测试；在不影响IV测试的同时进行EL测试；避免被测组件重复搬运，简化测试流程。
