技术背景

行业现状：行业常规工艺是已经延用了几十年的扁焊带串焊技术。

存在问题：

1.扁焊带会遮挡带来约3%的电流损失。

2.焊带遮光与电池内阻损耗难以兼顾，造成3%左右电阻损耗（填充因子）。

3.电池片间距造成2-4%左右的组件效率损失。

行业现状

MBB+圆焊带：智升科技EL检测仪为了解决主栅遮挡和内阻损耗的问题，近年来行业中出现了“MBB+圆焊带”技术。

不足：

1.智升科技EL检测仪圆形焊带对光的反射利用率很低，主栅遮挡损失利用率很小。

2圆焊带与主栅的接触面积很小，电阻损耗仍然有空间挖掘

3工艺稳定性不足，圆形焊带容易滚动，偏移和焊接问题较多

4上下EVA都要加厚，物料成本难以降低

5功率提升不高

源自美国Sunpower和Solaria公司的叠瓦技术（shingling）可以有效解决间距损耗的问题

不足：

1. 内阻损耗大：导电胶电阻较焊带低2-3个数量级，粘结区域电阻损耗高。

2. 组件CTM偏低：交叠区域宽度1-1.5mm，类似主栅遮挡，造成5%左右遮挡损失或电池片浪费。

3. 功率提升不高：交叠区域遮挡、倒角片组件的存在，智升科技EL检测仪导致整批叠瓦组件的功率提升打折。

4. 切割损伤大：激光切片直接造成智升科技EL检测仪效率损失，切割碎片率随切割数量线性增长。

5. 成本高：设备投资、导电胶价格、工艺成本都居高不下

6. 知识产权风险

7. 可靠性：有待进一步验证。

三角焊带技术：

利用三角形焊带高效的反光效果，最大限度减少主栅遮挡；兼容了智升科技EL检测仪MBB技术及三角焊带与主栅的优良接触，最大限度地减少电阻损耗

隐形金属化增强技术，SEMI：Stealth Enhanced Metallization Interconnection

三角焊带优秀的反光效果

技术介绍

      智升科技EL检测仪三角形焊带可利用几乎所有的垂直入射光和斜射光，扁焊带不能利用所有的垂直入射光和大部分的斜射光，圆形焊带可利用部分的垂直入射光和少量的斜射光。

与扁焊带和圆形焊带相比，三角焊带具有以下优势：

• 高的光利用率：所有垂直入射光和绝大部分的斜射光均可被直接反射利用，从而被玻璃和EVA吸收少。
  
• 高可靠性：智升科技EL检测仪与主栅接触面积大，界面串阻小，焊接强度大
  
• 高稳定性：便于焊接和定位，不易造成焊接偏移
  

备注：根据相关文献，光在玻璃种的吸收率为1.45%，光在EVA中的吸收率为1.79%。

 发展历程

拼片/Paving：无缝隐形柔性互联技术：以SEMI技术为基础，同时综合了双焊带处理技术、片上互联技术、超柔互联材料技术和高精度定向定位技术的新型组件技术。

 拼片技术特点：

三角焊带：正面采用三角焊带，入射光利用率高

多主栅效应：延续了智升科技EL检测仪MBB电池技术的银浆成本优势

双焊带处理技术：将正背面两种互联材料的优势分别发挥到极致

片上互联技术：正背面焊带在电池片上完成互联

超柔材料技术：充分利用智升科技EL电池片间距的同时拥有更低的碎片率

高组件效率：组件每瓦成本大大降低

高功率：功率提升高达13-15%；组件功率提升40-50W

高CTM：无重叠区域、三角焊带的电学和光学增强，CTM接近甚至超过100%

可靠性高：全部使用传统组件材料

薄片化：超柔材料有利于未来薄片化的趋势

成本低：智升科技EL检测仪焊带用量大幅度降低、EVA用量相对较低

EL检测图像

苏州智升科技EL检测仪是致力于太阳能检测及自动化设备的科技企业:生产供应 EL检测仪,EL测试仪,组件EL测试仪,便携式EL检测仪,太阳能组件测试仪,太阳能电池片测试仪，电池片EL检测仪，组件EL检测仪，便携式组件EL检测仪，电站EL测试仪，服务于电站自动化及光伏生产企业。